講演会 SCANTECH 2017のお知らせ

講演会 SCANTECH 2017のお知らせ

走査電子顕微鏡分科会では、恒例のSCANTECH 2017を開催致します。
SEM初心者を対象にした基礎講座から最新のSEM関連技術まで、充実した講演を予定しています。
また、講演後のミキサーでは、お飲物、軽食を準備していますので、飲みながら、食べながら活発な意見交換をしてください。
詳細は走査電子顕微鏡分科会HP(http://scantech.jp/)をご覧ください。

SCANTECH 2017
日 時:2017.9.15(金)10:00~(9:00受付開始)
場 所:東京都市大学 世田谷キャンパス
テーマ:SEM可視化技術の最前線 ~観察試料の多様性に応える前処理・後処理技術の今!~

1. 開会挨拶
                       稲里幸子(パナソニック)

2. SEM像形成の基礎
                       中嶌香織(日本電子)

3. EDXによる組成分析-手法の基礎と測定時の留意点
                       原 徹(物質・材料研究機構)

4. 光電子相関法(CLEM)の基礎と応用
                       豊岡公徳(理化学研究所)

5. 軟X線発行分析の基礎とバルク状態分析
                       寺内正巳(東北大学)

6. NanoSuit法とEDS観察法の併用による生物の低処理元素分析
                       針山孝彦(浜松医科大学)

7. ポスター&休憩
・真の姿をみるための前処理・観察技術
                       藤本亜由美(カネカテクノリサーチ)

・引張変形下における微細粒ステンレス鋼の組織解析
                       松尾卓、石田喬一、今福宗行(東京都市大学)

・Fe-Mn-Si-Cr系合金の変形・熱処理における組織・相硬度解析
                       石田喬一、伊藤薫平、今福宗行(東京都市大学)

8.FE-SEMにおけるその場観察技術
                       岡本嘉紀(コベルコ科研)

9.FIB-SEM装置による無機材料の解析例
                       加藤丈晴(ファインセラミックスセンター)

10.電子顕微鏡画像の画像解析と定量化
                       池崎満里子(日本ローパー)

11.閉会挨拶
                       乙部博英(旭化成)

12.ポスターセッション&フリートーキング