JSM日本顕微鏡学会

学会の概要

第19回電子顕微鏡大学開催の御案内
− 初心者と中堅のための電子顕微鏡技術セミナー−

電子顕微鏡はナノマテリアルをはじめとする先端材料の研究やバイオロジーの分野まで広い領域で、高度で有用な物質情報収集の担い手として、とみに存在感を増しつつあります。しかし、その機能と性能を十分に活用し、真に有用なデータを得るには、どうしてもある程度の基礎知識と操作の技術が要求されることも事実です。

こうした状況を踏まえ、材料研究に従事する研究者や技術者で、これから電子顕微鏡を利用しようとする人あるいは、始めて間もない初級・中級レベルの人を対象に、電子顕微鏡法の基礎的技術セミナー「電子顕微鏡大学」を開講しています。電子顕微鏡による材料の評価法及び分析法を講義して好評のうちに今回で第19回目を迎えます。アンケートによる受講者の意見の迅速な反映、好評の「質問・解答集」の送付など、受講者講師陣一体となった「平易で役立つセミナー」となるよう情熱を傾けています。物質・材料研究の次代を担う諸兄の受講をお誘い致します。
主  催
日本顕微鏡学会
日  時
2009年4月23日(木)、24日(金)
会  場
東京大学本郷キャンパス 理学部1号館 小柴ホール
東京都文京区区本郷7-3-1
会場地図はこちら
交  通
東京メトロ丸ノ内線または都営大江戸線:本郷三丁目
東京メトロ南北線:東大前
東京メトロ千代田線:根津 等
交通の詳細はこちら
定  員
150名(定員に至った時点で締め切ります)
受講料(テキスト代含む)
協賛学会会員45,000円、非会員60,000円、学生10,000円
(この機会に入会の申し込みをされるますと会員の資格で受講できます。)
<協賛学協会>
日本物理学会 応用物理学会 日本分析化学会 日本金属学会 日本鉄鋼協会 電子情報通信学会 軽金属学会 日本アルミニウム協会 高温学会 日本セラミックス協会 日本電子材料技術協会 日本複合材料学会 日本表面科学会 日本生物物理学会 日本結晶学会 日本航空宇宙工業会 日本材料科学会 精密工学会 ステンレス協会 (予定,順不同)
申込先
「電顕大学」事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷7−3−1
東京大学 大学院理学系研究科 地球惑星科学専攻内
TEL:03-5841-4548/FAX:03-5841-4555
e-mail:eiko@eps.s.u-tokyo.ac.jp
申込締切
2009年4月16日(木)
申込方法
原則、電子メールにてお申し込みください。題目を「第19回電顕大学参加申込」とし、
1.受講者氏名
2.勤務先・所属
3.住所
4.電話番号
5.受講者の電子メールアドレス
6.申込資格: 1)本学会会員、2)協賛学会会員、3)本学会賛助会員、4)非会員、5)学生のうちから該当の資格をお選びください。
1)については会員番号を、2)については学会名・会員番号をそれぞれ書いて下さい。
7.もし受講者と申込者が異なる場合は、申込者の氏名、電話番号、電子メールアドレスを本文に付け加えてください。
*電子メールでのお申し込みに問題がある場合は、上記の申込先電話番号までご連絡ください。定員以内であれば、受理通知を差し上げます。受講料は受理通知受領後に納入してください。
振込方法
下記の口座に受講料を申込締切日までに、お振り込みください。また、「受講料振込み完了」と電子メールにてお知らせください。電子メールでの通知及び振込が確認された時点で「受講証」と領収証をお送り致します。「受講証」は当日会場で御呈示して頂きますので大切に保管して御持参下さい。
振込口座
三菱東京UFJ銀行 秋葉原支店 普通口座
番 号:3000983
名 称:(社)日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡大学
(振込み用紙等で振り込む場合はこの名称を書いてください。またATMからの振込みでは振込先として"シヤ)ニホンケンビキヨウガツカイ"までしか表示されませんのでご注意ください。)
第19回電子顕微鏡大学プログラム(予定)
<第1日目> 4月23日(木) 9:40〜17:15  
<電子顕微鏡特論(1)構造解析>
1.試料作製法
−最適試料作製法と新手法−
上田修(金沢工業大学)
2.電子回折法 −回折図形の原理と構造情報− 津田健治(東北大・多元研)
3.明視野像法、暗視野像法 −材料組織と格子欠陥の詳細な観察法− 坂公恭 (名大・工)
4.原子構造の解析
  1)高分解能電顕法の基礎
−格子像原理のわかりやすい解説−
田中信夫(名大・工)
  2)高分解能電顕法の実際 −格子像観察で守るべき技術的ポイント− 市野瀬英喜(理化学研究所)

<第2日目> 4月24日(金) 9:30〜17:50
 
<電子顕微鏡特論(2)局所分析>
5.電子顕微鏡のハードウエア
−基本構造のやさしい解説−
及川哲夫(日本電子)
6.エネルギー分散型X線分光法(EDS) −元素分析の原理と実際− 板東義雄(物質・材料研究機構)
7.電子エネルギー損失分光法(EELS) −電子構造の情報を捉える− 倉田博基(京大・化研)
< 電子顕微鏡特論(3)形態や表面の観察・分析 >
8.表面のミクロ構造
−走査電顕(SEM・EPMA)SEM像と元素分析−
永田文男(ソリューション・ナタ)
9.表面の原子・電子構造 −STM・AFM 原理と技術的ポイント− 富取正彦(北陸先端科技大)
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