イベントのお知らせ
SCAN TECH 2009（社）日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
（社）日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会では、“「SEMでここまでできる」-目的に応じた工夫と落とし穴-”をテーマとしてSCAN TECH 2009を開催することになりました。SEMは各種分野で研究・開発や品質管理のツールとして広く活用されています。また、SEMは比較的容易な前処理と簡単な操作で高倍率像を観察できることから、ユーザーの裾野も広がっています。
しかし、多くのユーザーがSEM観察の際に、「目的の構造が見られない」「構造が予想と違う」「X線分析が上手くできない」などを経験されています。SEM観察では、目的に応じた「観察手法」「試料前処理手法」「分析手法」を工夫する必要があります。その工夫を怠ると思わぬ落とし穴に入り、場合によっては、間違った解析をするケースもあります。
今回のSCAN TECH 2009ではこうした現状を踏まえてテーマを設定しました。参加された方々のご研究あるいはビジネス推進の一助となることを期待して止みません。
講演会終了後のポスターセッション＆フリートーキングでは、講師と直接あるいは参加者同士が自由に討議できる時間をとってありますので、奮ってご参加下さい。
| 主 催： | （社）日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会 |
| 日 時： | 2009年9月4日（金） 10:00〜19:00 |
| 場 所： | 日本女子大学 80年館(851教室) 東京都文京区目白台2-8-1 交通 JR目白駅下車：徒歩15分／都バス（新宿駅西口行き・江戸川橋行き・椿山荘 行き）（所要時間5分）にて日本女子大学下車 地下鉄有楽町線護国寺駅下車：徒歩12分 地下鉄副都心線雑司ヶ谷駅下車(出口3)：徒歩８分 地下鉄有楽町線護国寺駅下車(出口4)：徒歩10分 |
| 参加費： | （予稿集代を含む） |
| 登録および参加費振り込みについて | |
| 登録＆振り込み締め切り： | |
| 2009年 8月 21日（金）/これ以降の方は当日登録となります。 | |
| 登録方法： | 分科会ホームページ http://members2.jcom.home.ne.jp/0449081801 （Webを利用できない方はFAXまたはE-mailでお願いします） →参加申込書〔PDF〕〔Word〕 |
| E-Mail&FAXでの申し込み先： | |
| （財）材料科学技術振興財団 分析評価部 TMG 米光 恭子 〒157-0067 東京都世田谷区喜多見1-18-6 FAX：０３−３７４９−４５６７ E-Mail：yonemitsu＠mst.or.jp |
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| 振込先： | 三菱東京UFJ銀行 秋葉原支店 口座名 社団法人 日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会 会長 高柳 邦夫 口座番号 1094816 念のため，振込領収書（またはコピー）を当日お持ち下さい。 |
| 周囲に関心をお持ちの方がいらっしゃいましたら、ぜひお知らせください。 なお、最新の情報は走査電子顕微鏡分科会のホームページをご覧下さい。 ＵＲＬ：http://members2.jcom.home.ne.jp/0449081801 来年度の案内をＥ−ｍａｉｌでご希望の方は、tamochi-ryuichiro＠naka.hitachi-hitec.com までご連絡下さい。 |
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| プログラム： （暫定） |
１．バイオ研究におけるSEMの活用 甲賀大輔（新潟大学大学院） ２．試料表面をここまで変える〜イオンミリング法〜 稲木由紀（日立ハイテクマニュファクチャ＆サービス） ３．斜め研磨法~切削で変わる分析結果〜 伊藤喜子（ライカマイクロシステムズ） 昼食 ４．SEMで傷･凹凸を観る、使う 青島利裕（TOTO） ５．SEMで出来ること、出来ないこと 〜ナノ材料・ソフトマテリアルの評価法検討 上野理恵（キヤノン） ６．SEMならここまでできる 乙部博英（旭化成） 休憩 ７．元素分析においてビームダメージとうまく付き合う方法 森 憲久（日本電子） ８．広領域分析 森田博文（オックスフォード） ９．低加速電圧FE-SEMによるメソポーラス材料の構造評価 遠藤 明（産業総合研究所） 10．ポスターセッション＆フリートーキング ポスターセッション＆フリートーキングの場では、演者に講演内容のポスターを提示していただき、それを見ながら個別に技術交流することができます。また、簡単なプレゼンテーションも可能です。奮ってご参加下さい。 上記プログラムは暫定のものです。演題，演者は変更になる可能性があります。最新情報は，走査電子顕微鏡分科会のホームページをご覧下さい。 ＵＲＬ：http://members2.jcom.home.ne.jp/0449081801 |
