イベントのお知らせ
第55回表面科学基礎講座
| 主 催： | 日本表面科学会 |
| 協 賛： | 日本顕微鏡学会ほか |
| 期 日： | ２０１３年７月９日(火)〜１１日(木) |
| 会 場： | 東京理科大学 森戸記念館 第一フォーラム 東京都新宿区神楽坂4-2-2 TEL：03-5228-8110 |
| プログラム | 第１日（７月９日） |
| 1. 表面・界面分析概論（中央大）野副尚一 2. SPMの基礎（筑波大）重川秀実 3. SPMの応用（東北大）中嶋健 4. 走査電子顕微鏡、電子ﾌﾟﾛｰﾌﾞﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ(SEM/EPMA) （島津）林広司 ほか |
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| 第２日（７月１０日） | |
| 1. 表面の特性基礎（東工大）木口学 2. 電子線回折法(RHEED/LEED)(大同大）堀尾吉巳 3. 放射光表面構造解析（慶応大）近藤寛 4. 測定データ取扱いの基礎(慶応大) 太田英二 ほか |
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| 第３日（７月１１日） | |
| 1. 真空技術基礎（ｵﾐｸﾛﾝ ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰ）大岩烈 2. 紫外光電子分光(UPS)（高エネ研）組頭広志 3. Ｘ線光電子分光法(XPS)（富士通研）中村誠 4. オージェ電子分光法(AES)（物材機構）岩井秀夫 ほか |
受講料： | 協賛学協会会員：４０,０００円，学生：１０,０００円 |
| 申込締切： | ６月２５日（火） 定員１００名（申込先着順締切） |
| 申込及び問合せ先： | |
| 公益社団法人日本表面科学会 〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷ｺｰﾎﾟﾚｲｼｮﾝ402 TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897 E-mail：shomu@sssj.org URL：http://www.sssj.org |
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