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 Vol.32, No.1, 1997

MICROSCOPY

Vol.32, No.1, 1997

目 次

巻頭言

電子顕微鏡は生き残れるか

永田 哲士

1

追悼文

名誉会員 小林恵之助先生を偲ぶ

辻 正樹

2

元会長 石田洋一先生を偲ぶ

市野瀬英喜

4

総説

原子間力顕微鏡による高分子単結晶の観察

中川 善嗣

5

解説

超高圧電子顕微鏡法によるLSIアルミニウム配線のマイグレーションの研究

岡林 秀和

11

ナノ粒子における急速合金化

保田 英洋

17

下垂体ゴナドトロピン産生細胞のホルモン産生と分泌の解離―α-subunitをめぐる話題―

内藤 延子

23

講座

集束イオンビーム装置

石谷  亨

28

集束イオンビームによる断面TEM試料作製

高井 義造、多留谷政良、志水 隆一;坂  公恭

33

ユーグレナにおける光合成タンパク質の動態―免疫電子顕微鏡法の応用―

江原 友子

39

技術情報

LSI特定箇所の断面TEM試料作製技術

朝山匡一郎、荒川 史子

44

SDS処理凍結割断レプリカ標識法―補講―:
急速凍結/凍結割断法、ならびに膜蛋白質のトポロジー解析と膜リン脂質の検出について

藤本  和

48

最近の研究から

〈先端材料解析研究部会・成果報告〉イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト―工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化―

朝倉健太郎、堀内 繁雄、広畑 泰久、平坂 雅男

52

EUREM '96(Dublin)報告(材料分野)

松井 良夫

56

第6回アジア・太平洋電子顕微鏡学会議報告

板東 義雄;瀬口春道

58

編集後記

伊藤 隆夫

61

平成8年度日本電子顕微鏡学会技術認定試験問題

巻末

日本電子顕微鏡学会会報 1997、No.1

巻末


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