JSM日本顕微鏡学会

分科会・研究部会

2013年新春電子顕微鏡解析技術フォーラムのお知らせ

(社)日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な問題点をざっくばらんに話し合う場として《電子顕微鏡解析技術フォーラム》を開催いたします。

今回は夏に引き続き、テーマ「酸化物材料を視る! 観る! 診る!〜結晶・機能性の評価から最新の工業的応用まで〜」と題し、酸化物材料の電子顕微鏡評価について、構造の基礎から最新機能性材料の応用までとことん議論します。

また、このフォーラムでの特長である"ざっくばらんトーク"では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問点を発表していただき、今後のご研究に役立つ議論をいたします。 
その他、トピックスとして最新の技術・試料作製方法の紹介、また、皆様の日頃のご研究成果などを発表していただく解析事例の紹介や課題の提案も募集しております。
電子顕微鏡に携わる皆様、ふるってご参加ください!

  ・参加申し込み&確認書

1.主 催: (社)日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
2.日 時: 2013年1月25日(金)10:00 〜 17:45
懇親会 18:00 〜 20:00(予定)
 場 所: 日本電子株式会社 大手町事務所
東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル18階
3.プログラム: ■酸化物材料を 視る! 観る! 診る!
  中性子回折とは〜中性子回折の利点〜実際の解析例まで
   八島 正知(東工大)
  Wedge法によるTEM試料作製
   丸山 秀夫((株)カネカテクノリサーチ)
■チュートリアル   酸化物の構造と機能
   山本 剛久(名古屋大学)
  S/TEMにおける分析の極意−電子遷移の過程を知ろう−
   武藤 俊介(名古屋大学)
■解析事例の紹介(公募)
■ざっくばらんトーク
4.参加費: 2,000円(日本顕微鏡学会個人会員&法人会員)
3,000円(学会会員外) ※昼食代込み
 懇親会費: 1,000円
5.定 員: 50名
6.締切り: 2013年1月11日(金)(定員になり次第締め切ります)
7.解析事例の紹介および課題の公募:
  電子顕微鏡を用いた解析技術、試料作製技術等に関しての発表を2件募集します。発表時間は20分(質疑応答含む)を予定しております。発表希望者は参加申込書に記入して送付して下さい。要旨の提出要綱は別途ご連絡いたします。
ホームページ: http://www5.ocn.ne.jp/~denken11/
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