JSM日本顕微鏡学会

分科会・研究部会

2014年新春電子顕微鏡解析技術フォーラム 開催案内

 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な疑問点をざっくばらんに話し合う場として、電子顕微鏡解析技術フォーラムの開催を企画しています。
 今回のフォーラムでは、夏に引き続き、テーマ「材料の破壊−EM分析の従来概念を破壊する−」と題し、様々な材料の破壊に至るメカニズム、破壊の電子顕微鏡評価についてとことん議論します。
 また、今回は名古屋大学殿のご厚意により、超高圧電子顕微鏡施設の装置見学も予定しております。他にもこのフォーラムでの特長である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問点を発表していただき、今後のご研究に役立つ議論をいたします。電子顕微鏡に携わる皆様、ふるってご参加ください!

  ・参加申し込み&確認書

1.主催: 公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
2.日時: 2014年1月17日(金)10:00 〜 17:00
懇親会 17:30〜19:30(予定)
 場所: 名古屋大学 環境総合館 レクチャーホール
 参加費: 2,000円(日本顕微鏡学会個人会員&法人会員)
3,000円(学会会員外)※昼食代込み
 懇親会費: 1,000円
3.定員: 50 名
4.申込み期限: 2013年12月27日(金) (定員になり次第締め切ります)
 申込み方法: お申込書に必要事項を記入し、E-mail、FAX、郵送等で下記までお送り下さい。
 問い合わせ先および申込み先:
  日鉄住金テクノロジー(株) 水尾 有里 e-mail:mizuo-yuri@nsst.jp
電話:0439-80-2691 ファクシミリ:0439-80-2767
HP:http://www5.ocn.ne.jp/~denken11/
費用振込先:三菱東京UFJ銀行 秋葉原支店 普通口座 番号:1095060
振込先名義:公益社団法人 日本顕微鏡学会 電子顕微鏡解析技術分科会
5.「解析事例の紹介および課題」の公募:
  電子顕微鏡を用いた解析技術、試料作製技術等に関しての発表を1件募集します。発表時間は20分(質疑応答含む)を予定しております。発表希望者は別紙参加申込書ご記入ください。なお、公募の締め切りは12月10日(火)です。要旨の提出要綱は別途ご連絡いたします。
6.主な内容: 『材料の破壊−EM分析の従来概念を破壊する−』
コンクリート構造物寿命予測のための腐食性元素の拡散分布解析  高橋秀之(日本電子)
車載半導体デバイスの不具合解析とその取り組み 後藤安則(トヨタ自動車)
金属の高エネルギー粒子による照射損傷と機械的性質変化 義家敏正(京都大学)

『チュートリアル』
高温ナノインデンテーション法による高分子材料の粘弾性評価 叶 際平(日産アーク)

『解析事例の紹介』
今回のテーマと関係なく1件募集します。(発表時間:20分(質疑応答含む))

『その他』 超高圧電子顕微鏡施設見学
ざっくばらんトーク 試料作製・測定・解析など、皆様の日頃の問題点をじっくり議論します。
<電子顕微鏡解析技術フォーラム実行委員>
  長澤 忠広(ライカマイクロシステムズ)、丸山 秀夫(カネカテクノリサーチ)、乾 光隆(セイコーエプソン)、太田 耕三(富士ゼロックス)、大森 典子(コバレントマテリアル)、木村 耕輔(東レリサーチ)、久芳 聡子(日本電子)、今野 充(日立ハイテクノロジーズ)、高橋 知里(愛知学院大学)、水尾 有里(日鉄住金テクノロジー)、武藤 俊介(名古屋大学)、元井 泰子(キヤノン)、山元 清史(コベルコ科研)、和田 充弘(三井金属)
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