相反定理に基づく環状明視野STEM結像の考察

阿部英司^ａ，石川亮^ｂ

^ａ東京大学大学院工学系研究科
（^ｂ現：オークリッジ米国立研，学振海外特別研究員）

要旨：最近，結晶中の軽元素原子を捉える高感度イメージング法として，収差補正後の大角度収束ビームを用いた環状明視野（Annular Bright-Field: ABF）STEM法が注目を集めている．通常のSTEM明視野結像と比較して，ABF結像は極めて高感度であり，結晶中のリチウム原子や水素原子の観察がなされるまでに至っている．本稿ではABF結像の妙味を，TEM法との相反性に基づいて解釈を試みた例を簡潔に述べる．

キーワード：原子分解能STEM，球面収差補正，環状明視野法，軽元素観察

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