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Vol.48▶No.3
表紙説明:ヤモリの足の指の裏の走査型ヘリウムイオン顕微鏡(SHIM)による二次電子像:SHIMは集束Heイオンビームを用い,高空間分解能,大焦点深度,高物質コントラスト,ナノ加工等の特長を有する.ヤモリ試料は導電性コーティングなしではSEM観察不可であったが,SHIMでは広範囲低倍から局所域高倍まで詳細に観察できた.p.157参照.

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特集:ナノイオンプローブによる新規顕微計測技術の展開
特集:ナノイオンプローブによる新規顕微計測技術の展開