■巻頭言

顕微鏡学のさらなる発展のために〔PDF〕

丹司敬義

■特別記事

IMCとそれを支えるIFSMの現状と今後の課題〔PDF〕

古屋一夫

■特集：電顕のためのシミュレーションの基礎

シミュレーションの基礎〔PDF〕

今野豊彦

電子回折の幾何学とその計算法〔アブストラクト〕〔PDF〕

小暮敏博

高分解能電子顕微鏡像のシミュレーション〔アブストラクト〕〔PDF〕

石塚和夫

第一原理計算の基礎とEELS計算への応用〔アブストラクト〕〔PDF〕

池野豪一，溝口照康

多変量統計解析を利用したスペクトル・イメージの解析：利点と問題点〔アブストラクト〕〔PDF〕

渡辺万三志，石塚和夫

■解説

SiC上エピタキシャルグラフェンの成長と優位性〔アブストラクト〕〔PDF〕

楠美智子，乗松航

形態科学を基盤とした遺伝子発現解析法―in situ hybridization法を中心に―〔アブストラクト〕〔PDF〕

日野真一郎，Narantsog Choijookhuu，菱川善隆

嗅球神経回路の調節に関する三次元構造解析〔アブストラクト〕〔PDF〕

樋田一徳，清蔭恵美，鈴木良典，浜本真一

■講座

「定量化」時代の生物画像処理〔アブストラクト〕〔PDF〕

木森義隆

EPMAの基礎技術と最新のFE-EPMAの紹介〔アブストラクト〕〔PDF〕

坂前浩，林広司

■最近の研究と技術

X線干渉計を用いたZ_effイメージング法の開発〔アブストラクト〕〔PDF〕

米山明男，馬場理香，竹谷敏，兵藤一行，武田徹

Triple Cプロジェクトにおける色収差補正装置の開発〔アブストラクト〕〔PDF〕

沢田英敬，細川史生，佐々木健夫，湯浅修一，片境浩二，脇俊作，川添宗之，清水有子，中道智寛，末永和知

■Microscopy Editor’s Choiceより〔PDF〕

■編集後記〔PDF〕

保田英洋

   2014年度日本顕微鏡学会電子顕微鏡技術認定試験問題