第43巻 第3号 2008年
目 次
■ 巻頭言
顕微鏡の魅力
柴田洋三郎
■ 特集:SEMにおける信号検出と像コントラストの違い
特集にあたって
山下美香
入射電子の試料内振る舞い(シミュレーション)からみたSEM画像
石谷亨
各種SEMにおける電子の検出法と像の見え方の違い
小野昭成,柴田昌照
SEMにおける減速光学系を用いた反射電子の検出
菊地真樹
エネルギー選択による信号検出(ExB)
多持隆一郎,渡邉俊哉
磁界・静電界複合光学系SEMにおける信号検出
立花繁明
低真空SEMでの信号検出
中村美樹,Milos Toth
■ 解説
透過電子顕微鏡内におけるナノ領域のトンネル伝導計測
有田正志,浜田弘一,広瀬龍介,大窪洋平,高橋庸夫
ギャップ結合による神経細胞ネットワーク
福田孝一
■ 講座
機能を探るQuantum dot multiple staining
伊東丈夫
生命科学・医学応用のための極微弱発光・蛍光イメージング技術
小林正樹
超高圧電子顕微鏡の遠隔操作・観察
吉田清和
TEM像の解釈(Ⅱ)
今野豊彦
■ 最近の研究と技術
ラット膨大後皮質の線維結合
柴田秀史
電子線照射下のナノカーボン材料のダイナミクス解析
安田雅昭
分析電子顕微鏡による銅耐性酵母菌の銅分布の解析
植松勝之,井上明,阿部文快,三浦健,掘越弘毅
脳血管系の三次元的観察技法
橋本尚詞,石川博,日下部守昭
■ 会議報告
第64回学術講演会の会議報告
磯田正二,出澤真理,倉田博基
~最先端の顕微鏡と理論計算に関する第一回国際シンポジウム~
平山司
■ 編集後記
木村吉秀
日本顕微鏡学会会報 2008, No. 3