学会活動
第２３回電子顕微鏡大学
主催：日本顕微鏡学会
開講の御案内電子顕微鏡は先端材料の研究・開発における有益な物質情報解析の手法として，極めて高性能・高機能な装置・技術に成長しております。しかしながらその一方で，電子顕微鏡の性能と機能を十分に活用し，真に有用なデータを収集するには，ある程度の手法や装置に関する基礎知識と熟練した操作技術が要求されることも事実です。
こうした状況を踏まえ日本顕微鏡学会は，主に材料の研究・開発に従事する研究者や技術者で，これから電子顕微鏡を利用しようとする人や，始めて間もない初級・中級者レベルの人を対象に，電子顕微鏡法の基礎的なセミナー「電子顕微鏡大学」を開講しております。電子顕微鏡による様々な物質・材料の評価法及び分析法を講義して，好評のうちに今回で第23回目を迎えます。アンケートによる受講者の意見の迅速な反映，好評の「Q＆A集」の送付など，受講者と講師陣が一体となった「平易で役立つセミナー」となるよう情熱を傾けております。物質・材料の研究・開発における次代を担う諸兄の受講をお誘い致します。
- 【日 時】
- 2013年6月13日（木），14日（金）
- 【会 場】
- 東京大学本郷キャンパス 理学部1号館 小柴ホール
東京都文京区本郷7-3-1
交通：地下鉄（東京メトロ丸ノ内線または都営大江戸線）本郷三丁目
地下鉄（東京メトロ南北線）東大前，（東京メトロ千代田線）根津 等 - 【定 員】
- 150名（定員に至った時点で締め切ります）
- 【受講料】
- 日本顕微鏡学会会員及び賛助会員 （各団体5名まで）：30,000円
協賛学会会員：45,000円
非会員：60,000円
学生：10,000円
（この機会に日本顕微鏡学会入会のお申し込みをされますと会員資格で受講できます） - 【申込方法】
- 申込みは終了しました。
受講申込みはインターネットからの受付のみとさせていただきます。上記の該当ボタンをクリックし、会員の方はマイページ用のID（会員番号）・パスワードでログインの上、お申し込みください。 - 【申込締切】
- 2013年5月20日（月）
この日を過ぎての申込み，あるいは開催当日の申込みは受け付けません。 - 【振込方法】
- 申込みが完了しますと，登録したメールアドレスに「申込完了通知」メールが届きます。「申込完了通知」メールが届きましたら，申込締切り日（5月20日）までに，「申込完了通知」メールに記載された銀行口座宛に受講料を振り込んでください （恐れ入りますが，振込手数料はご負担願います）。申込締切り日（5月20日）までに振り込みが行われていない場合，申込みは取り消されますのでご注意ください。開催日の1〜2週間ほど前に「講義テキスト」「受講証」「領収書」を郵送致します。「講義テキスト」「受講証」は当日会場で使用しますので大切に保管してご持参下さい。
振込先
ゆうちょ銀行振替口座
口座番号 00100-9-790139
口座名義 日本顕微鏡学会電子顕微鏡大学
他金融機関からの振込の場合
支店名：０一九（ゼロイチキュウ）店(019)
口座種別：当座 口座番号：0790139
※郵便局備え付けの郵便振替用紙（青色）の通信欄に受付番号（申込完了通知メールにてお知らせいたしますRG0000番号），氏名，住所，メールアドレスをご記入の上，お振込みください。 - 【問合せ先】
- 申し込みに関するお問い合わせは
社団法人 日本顕微鏡学会 電子顕微鏡大学ヘルプデスク
FAX：03-5227-8632 E-mail：jsm-denken@bunken.co.jp - 講習の内容等に関するお問い合わせは
東京大学内 第23回電子顕微鏡大学実行委員会 事務局
FAX：03-5841-4555 E-mail：kogure@eps.s.u-tokyo.ac.jp
までお願いします。 - 【協賛学協会】
- 電気学会 電子情報通信学会 軽金属学会 日本アルミニウム協会 表面技術協会
高分子学会 スマートプロセス学会 日本分析化学会 日本セラミックス協会
電子情報技術産業協会 日本複合材料学会 日本表面科学会 日本アイソトープ協会
日本結晶学会 日本金属学会 日本航空宇宙工業会 日本塑性加工学会 日本鉄鋼協会
日本材料学会 日本材料科学会 応用物理学会 精密工学会 溶接学会
日本生物物理学会 日本物理学会 日本鉱物科学会 （順不同）
＜第1日目＞ 6月13日(木) 9：40〜17：20
１．電子顕微鏡のハードウエア −基本構造のやさしい解説− 及川哲夫
２．電子回折法 −回折図形の原理と構造情報− 津田健治
３．明視野像法，暗視野像法 −材料組織と格子欠陥の詳細な観察法− 坂公恭
４．原子構造の解析
１）高分解能電顕法の基礎 −格子像原理のわかりやすい解説− 田中信夫
２）高分解能電顕法の実際 −格子像観察で守るべき技術的ポイント− 市野瀬英喜
＜第２日目＞ 6月14日(金) 9：20〜17：40
５．走査型透過電子顕微鏡（STEM）による結像 阿部 英司
６． エネルギー分散型Ｘ線分光法（ＥＤＳ） −元素分析の原理と実際− 堀田善治
７．電子エネルギー損失分光法（ＥＥＬＳ） −電子構造の情報を捉える− 倉田博基
８．試料作製法 -最適試料作製法と新手法- 谷山 明
９．走査電子顕微鏡の基本と応用 −多様な機能をどう使うか− 佐藤馨
10．表面の原子・電子構造 −STM・AFM 原理と技術的ポイント− 富取正彦
