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Vol.32, No.1, 1997 |
巻頭言 |
電子顕微鏡は生き残れるか |
永田 哲士 |
1 |
追悼文 |
名誉会員 小林恵之助先生を偲ぶ |
辻 正樹 |
2 |
元会長 石田洋一先生を偲ぶ |
市野瀬英喜 |
4 |
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総説 |
原子間力顕微鏡による高分子単結晶の観察 |
中川 善嗣 |
5 |
解説 |
超高圧電子顕微鏡法によるLSIアルミニウム配線のマイグレーションの研究 |
岡林 秀和 |
11 |
ナノ粒子における急速合金化 |
保田 英洋 |
17 |
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下垂体ゴナドトロピン産生細胞のホルモン産生と分泌の解離―α-subunitをめぐる話題― |
内藤 延子 |
23 |
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講座 |
集束イオンビーム装置 |
石谷 亨 |
28 |
集束イオンビームによる断面TEM試料作製 |
高井 義造、多留谷政良、志水 隆一;坂 公恭 |
33 |
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ユーグレナにおける光合成タンパク質の動態―免疫電子顕微鏡法の応用― |
江原 友子 |
39 |
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技術情報 |
LSI特定箇所の断面TEM試料作製技術 |
朝山匡一郎、荒川 史子 |
44 |
SDS処理凍結割断レプリカ標識法―補講―: |
藤本 和 |
48 |
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最近の研究から |
〈先端材料解析研究部会・成果報告〉イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト―工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化― |
朝倉健太郎、堀内 繁雄、広畑 泰久、平坂 雅男 |
52 |
EUREM '96(Dublin)報告(材料分野) |
松井 良夫 |
56 |
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第6回アジア・太平洋電子顕微鏡学会議報告 |
板東 義雄;瀬口春道 |
58 |
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編集後記 |
伊藤 隆夫 |
61 |
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平成8年度日本電子顕微鏡学会技術認定試験問題 |
巻末 |
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日本電子顕微鏡学会会報 1997、No.1 |
巻末 |
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