分科会・研究部会
2013年夏の電子顕微鏡解析技術フォーラム 開催案内
公益社団法人日本顕微鏡学会 会員各位
日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な問題点をざっくばらんに話し合う場として、今年も《電子顕微鏡解析技術フォーラム》を開催いたします。
今回は、テーマ「材料の破壊−EM分析の従来概念を破壊する−」と題し、様々な材料破壊に至るメカニズム、破壊の電子顕微鏡評価について、とことん議論します。
また、このフォーラムでの特長である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問点を発表していただき、今後のご研究に役立つ議論をいたします。
その他、トピックスとして最新の技術・試料作製方法の紹介、また、皆様の日頃のご研究成果などを発表していただく解析事例の紹介や課題の提案も募集しております。
電子顕微鏡に携わる皆様、ふるってご参加ください！
| 1.主催： | 公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会 |
| 2.日時： | 2013年8月23日（金）13:00 〜 8月24日（土）17:00予定（1泊2日） |
| 3.場所： | マホロバ・マインズ三浦 別館ANNEX（神奈川県三浦市南下浦町上宮田3231） |
| 4.プログラム： | ■材料の破壊−EM分析の従来概念を破壊する− Nano-IR法による機能性高分子材料の評価 〜50nm領域の赤外分光技術〜 叶 際平（日産アーク） 金属材料の破損破面から診る損傷原因調査 糟谷 和幸（JFEテクノリサーチ） 共焦点ラマン顕微鏡の原理と故障解析への適用 中本 圭一（WITec） エンジニアリングプラスチックの破壊挙動と解析評価 滝口 育美（東レ） ■チュートリアル FCC金属の繰り返し変形による転位組織の発達過程 藤居俊之（東京工業大学） セラミックス（タイトル未定） 香川豊（東京大学、物質・材料研究機構） 透明導電膜の基礎物性（ITO,IZO,AZO薄膜の構造、電気特性、光学特性、表面物性） 重里有三（青山学院大学） ■解析事例の紹介（公募：2件） ■ざっくばらんトーク 試料作製・測定・解析など、皆様の日頃の問題点をじっくり議論します。 |
| 5.参加費： | 25,000円（日本顕微鏡学会個人会員＆法人会員） 30,000円（会員外） ※宿泊費を含む |
| 6.定員： | 40名 |
| 7.申込み期限： | 2013年7月30日（火）（定員になり次第締め切ります） |
| 8.申込み方法： | ご案内の申込書に必要事項を記入し、E-mail、FAX、郵送等で下記までお送り下さい。 問い合わせ先および申込み先： 日鉄住金テクノロジー（株） 水尾 有里 e-mail：mizuo-yuri@nsst.jp 電 話：0439-80-2691 ファクシミリ：0439-80-2767 HP：http://www5.ocn.ne.jp/~denken11/ |
| ※「解析事例の紹介および課題」の公募 電子顕微鏡を用いた解析技術、試料作製技術等に関しての発表を2件募集します。 発表時間は20分（質疑応答含む）を予定しております。 発表を希望される方は参加申込書にご記入ください。 公募の申込み期限は7月30日(火)です。 要旨の提出要綱は別途ご連絡いたします。 皆様の参加をお待ちしています。 |
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