ランチョンセミナー

5月20日（月）12:00～13:00

B会場（月光1　本館2F）
日本電子株式会社

・テーマ：

「新カメラシステムを搭載した透過電子顕微鏡"JEM-1400Plus"の紹介」
演者：濱元千絵子（日本電子株式会社EM事業ユニット）

・テーマ：

「2次元から3次元へ！　FIB-SEMによる３D分析の紹介」
演者：三平 智宏（日本電子株式会社SM事業ユニット）

C会場（月光2　本館2F）
カールツァイスマイクロスコピー株式会社

・タイトル：

カールツァイスのFE-SEMによる立体試料の低加速イメージングおよび分析
演者：田中かをり、 兼崎琢麿（カールツァイスマイクロスコピー株式会社　トレーニング・アプリケーション・サポートセンター）

・タイトル：

SEMとAFM の融合が拓く新世界
演者：橋本 拓　（株式会社東陽テクニカ 分析システム営業部）

D会場（水鳥　本館3F）
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

・テーマ：

AutoPhaseMap ～新しいAZtecの自動相分析～
演者：山口 晋 (オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社)

E会場（風雅　本館3F）
GATAN

・テーマ：

「Introduction of new low damage ion milling tools for TEM and SEM sample preparation」
演者：高内　幸一、藤谷　洋（GATAN）

F会場（銀河　東館2F）
日本エフィー・アイ株式会社

・テーマ：

「Ultra-Fast TEM or UEM　~FEI社; 時間分解能顕微鏡への開発アプローチ~」
演者：Eric Van Cappellen（FEI Company, USA）

G会場（泉　東館1F）
株式会社日立ハイテクノロジーズ

・テーマ：

「最新FE-SEMの機能とアプリケーションのご紹介」
演者：高木　修（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

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5月22日（水）12:00～13:00

B会場（月光1　本館2F）
株式会社日立ハイテクノロジーズ

・テーマ：

「高分解能STEM/TEMによる最新解析技術の紹介」
演者：松本 弘昭（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

C会場（月光2　本館2F）
株式会社北海光電子

・テーマ：

「表面科学を拓く光電子顕微鏡―北海光電子My ＰEEMの御紹介」
演者：津野勝重　(北海道大学触媒化学研究センター、株式会社北海光電子)

D会場（水鳥　本館3F）
NanoMegas SPRL / (株)TSLソリューションズ / (株)アド・サイエンス

・テーマ：

「-TEM 回折パターンを生かす-」
結晶構造解析そしてナノスケールの結晶方位マップ作成および弾性歪解析技術
演者：Robert Stroud (NanoMegas SPRL)

E会場（風雅　本館3F）
日本エフィー・アイ株式会社

・テーマ：

「Latest developments in cryo-TEM: FEI Tecnai Arctica and Falcon IITM 」
演者：Sacha De Carlo（FEI Company, The Netherlands）

F会場（銀河　東館2F）
日本電子株式会社

・テーマ：

「JEOL Cutting Edge technology　- Monocromated ARM -」
演者：奥西 栄治（日本電子株式会社EM事業ユニット）

・テーマ：

「大気非暴露冷却CPの紹介」
演者：中島 雄平（日本電子株式会社SM事業ユニット）