STEMと電子線トモグラフィーの出会い

青山一弘^a，宮澤淳夫^b,c

^a日本エフイー・アイ株式会社
^b兵庫県立大学大学院生命理学研究科
^c独立行政法人理化学研究所放射光科学総合研究センター

キーワード：STEM：走査透過型電子顕微鏡，ET：電子線トモグラフィー，クライオ電子顕微鏡法，CEMOVIS：Cryo-Electron Microscopy Of Vitreous Sections，TOVIS：Tomography Of Vitreous Sections

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