| 表紙説明：ヤモリの足の指の裏の走査型ヘリウムイオン顕微鏡（SHIM）による二次電子像：SHIMは集束Heイオンビームを用い，高空間分解能，大焦点深度，高物質コントラスト，ナノ加工等の特長を有する．ヤモリ試料は導電性コーティングなしではSEM観察不可であったが，SHIMでは広範囲低倍から局所域高倍まで詳細に観察できた．p.157参照． |
会誌・出版物 > 顕微鏡 （和文誌） > Vol.48, No.3, 2013 (表紙写真)
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特集：ナノイオンプローブによる新規顕微計測技術の展開 |