多元素微粒子プローブアレイ標識による1細胞in situ発現解析を目指すアダプティブSEMの開発

金賢徹^ａ，寺薗英之^ａ，竹井弘之^ａ,ｂ，安田賢二^ａ,ｃ

^ａ財団法人神奈川科学技術アカデミー
^ｂ東洋大学生命科学部生命科学科
^ｃ東京医科歯科大学生体材料工学研究所システム研究部門情報分野

要旨：多数の標的分子の発現状態をnm空間分解能で同時かつ網羅的に定量計測することを可能とする「アダプティブSEM」技術開発について紹介する．異なる粒径と元素を組み合わせた500種類以上のナノ粒子標識プローブセットを新規開発し，FE-SEM反射電子定量計測を利用して6種類以上の異なる元素の粒子を同時に識別同定することで，サイズと元素の異なるナノ粒子標識セットの空間分布を同時識別計測する技術を開発した．

キーワード：アダプティブ電子顕微鏡，反射電子分析，金属微粒子，1細胞計測，走査型電子顕微鏡

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