X線干渉計を用いたZ_effイメージング法の開発

米山明男^ａ，馬場理香^ａ，竹谷敏^ｂ，兵藤一行^ｃ，武田徹^ｄ

^ａ（株）日立製作所中央研究所
^ｂ（独）産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
^ｃ高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
^ｄ北里大学医療衛生学部

要旨：結晶X線干渉計を用いて，被写体の平均的な原子番号（実効原子番号：effective atomic number, Z_eff）を可視化するZ_effイメージング法を新たに開発した．単色放射光を用いてアルミ，鉄，ニッケル，及び銅の各箔を対象とした試用観察を行った結果，各金属の原子番号に対応した濃淡を示す像の取得に成功した．また，ニッケル及び銅のZ_eff値は誤差5％以内で各原子番号と一致した．

キーワード：X線干渉計，実効原子番号，位相イメージング，吸収イメージング，Z_effイメージング

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