特集号の発刊にあたって

井出　千束

2

会長挨拶

平野　　寛

3

装　　置：全体史

装置開発

丸勢　　進

4

装　　置：発展史と展望

透過電子顕微鏡（TEM）

8

矢田　慶治，原田　嘉晏，砂子沢成人

超高圧電子顕微鏡（HVEM）

18

下山　　宏，鷹岡　昭夫，本田　敏和，松井　　功

走査電子顕微鏡（SEM）

22

市ノ川竹男，佐藤　　貢，中川　清一，小池　紘民

走査プローブ顕微鏡（SPM）

岩槻　正志

28

イオン顕微鏡（SIM と FIM）

石谷　　亨

30

Ｘ線微小分析装置　1．Ｘ線マイクロアナライザー（EPMA）

志水　隆一

32

Ｘ線微小分析装置　2．エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDX）

大浦　俊彦

34

電子分光装置（EELS と EFTEM）

津野　勝重

36

画像記録・処理装置

及川　哲夫

38

LSI観察・評価装置

藤岡　　弘，岡山　重夫

41

観察・解析法：発展史と展望

材料分野の試料作製法

永田　文男

44

透過電子回折法

田中　通義

46

反射電子回折法

一宮　彪彦

49

高分解能観察法

堀内　繁雄，松井　良夫

51

電子線ホログラフィ

平山　　司

55

その場電顕観察法

井村　　徹，坂　　公恭

57

超高真空電顕法

八木　克道

60

ローレンツ顕微鏡法

原田　　研

62

極低温高分解能観察法

藤吉　好則

64

試料雰囲気の制御法

石川　　晃

66

電子エネルギー損失分光法

倉田　博基

68

エネルギーフィルター電顕法

水平　敏知

69

Ｘ線分光法

堀田　善治

71

カソードルミネッセンス法

関口　隆史

73

画像記録・解析法

馬場　則男，進藤　大輔

75

日本電子顕微鏡学会50周年記念特別講演

カーボンナノチューブ：TEM により発見された新物質

飯島　澄男

78

日本電子顕微鏡学会50周年記念公開講演

原子は見えるか，見ることが何故必要なのか

橋本初次郎

79

美しきミクロの世界へようこそ

田中　敬一

84

電子波で見るミクロの世界

外村　　彰

87

式典の収録

90

資　　料

94

1999年度日本電子顕微鏡学会技術認定試験問題

巻末

日本電子顕微鏡学会会報　2000, No.1

巻末