基調講演

今回、新たな試みとして、25日（月）および26日（火）の両日、朝 8:30より、A会場にて基調講演を開催いたします。両日とも朝早い時間帯ではありますが、第一線で研究を切り拓かれてきた研究者のお話を直接伺える貴重な機会ですので、ぜひご参加ください。

基調講演１

5月25日（月）8:30～9:15　A会場
Ondrej Krivanek 先生 （Bruker AXS）
「STEM instrumentation developments: atomic-resolution secondary electron (SE) imaging in UHV environment, and a stable and flexible liquid He-cooled sample stage」
Krivanek先生は、EELS装置やSTEM収差補正技術の開発、さらには超高分解能EELSによるフォノン分光で世界的に著名であり、2020年にはカブリ賞を受賞されています。顕微鏡学そのものの発展を牽引してこられた研究者による、最先端の装置開発・計測技術に関する大変貴重な講演です。

基調講演２

5月26日（火）8:30～9:15　A会場
田中 耕一 先生 （株式会社島津製作所）
「質量分析学とマルチディシプリナリー」
田中先生は、質量分析法における「ソフトレーザー脱離イオン化法」の開発により、 質量分析技術を飛躍的に進化させ、2002年ノーベル化学賞を受賞されています。 計測科学が分野横断的にどのように新しい学術や産業を切り拓いていくのか、多分野融合という観点からも大変刺激的な講演になると思います。