電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な疑問点をざっくばらんに
話し合う場として<電子顕微鏡解析技術フォーラム>を開催しております。
今年度は昨年度と同様、新型コロナ感染拡大防止対策として、オンラインで開催します。
今回は夏のフォローアップとして、「試料ができなきゃ、その先はない！電池材料評価と電解研磨の秘訣を教えます」
と題し、試料作製について、具体的な材料への適用事例を中心に、更に議論を掘り下げます。
主 催：公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
日 時：2022年1月21日（金）13:15 ～ 16:30（予定）
開催形式：オンライン開催（web会議システムTeams）
参加費 ： 無料
定 員：150名
申込期間：12月16日～12月24日 （定員になり次第締め切ります）
申込方法：12月16日に電子顕微鏡解析技術フォーラムHP上にてお申込みフォームのURLを公開いたします。
サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。
問い合わせ先：日鉄テクノロジー（株） 水尾 有里
e-mail: mizuo.yuri.8dg[at]nstec.nipponsteel.com
※[at] を@に変更してください
電 話： 0439-80-2866 ファクシミリ：0439-80-2733
HPはこちら
【主な内容 】
・電子顕微鏡観察のための大気非暴露による試料調整と観察例 小林 俊介（JFCC）
・全固体リチウムイオン電池のin situ SEM観察技術 加藤 健太郎（東レリサーチセンター）
・「電解研磨法 夏のフォローアップ ～FIBとの比較～」 宮澤 知孝（東京工業大学）
・画像処理ワーキンググループ活動の中間報告（仮） 乾 光隆（セイコーエプソン）
・ざっくばらんトーク
皆様から頂いた質問から、数件をピックアップし、参加者間で議論します。
詳細はこちら
