講演会 SCANTECH 2017のお知らせ
走査電子顕微鏡分科会では、恒例のSCANTECH 2017を開催致します。
SEM初心者を対象にした基礎講座から最新のＳＥＭ関連技術まで、充実した講演を予定しています。
また、講演後のミキサーでは、お飲物、軽食を準備していますので、飲みながら、食べながら活発な意見交換をしてください。
詳細は走査電子顕微鏡分科会HP（http://scantech.jp/）をご覧ください。
SCANTECH 2017
日 時：2017.9.15（金）10:00～（9:00受付開始）
場 所：東京都市大学 世田谷キャンパス
テーマ：SEM可視化技術の最前線 ～観察試料の多様性に応える前処理・後処理技術の今！～
1. 開会挨拶
稲里幸子（パナソニック）
2. SEM像形成の基礎
中嶌香織（日本電子）
3. EDXによる組成分析-手法の基礎と測定時の留意点
原 徹（物質・材料研究機構）
4. 光電子相関法（CLEM）の基礎と応用
豊岡公徳（理化学研究所）
5. 軟X線発光分析の基礎とバルク状態分析
寺内正己（東北大学）
6. NanoSuit法とEDS観察法の併用による生物の低処理元素分析
針山孝彦（浜松医科大学）
7. ポスター＆休憩
・真の姿をみるための前処理・観察技術
藤本亜由美（カネカテクノリサーチ）
・引張変形下における微細粒ステンレス鋼の組織解析
松尾卓、石田喬一、今福宗行（東京都市大学）
・Fe-Mn-Si-Cr系合金の変形・熱処理における組織・相硬度解析
石田喬一、伊藤薫平、今福宗行（東京都市大学）
8.FE-SEMにおけるその場観察技術
岡本嘉紀（コベルコ科研）
9.FIB-SEM装置による無機材料の解析例
加藤丈晴（ファインセラミックスセンター）
10.電子顕微鏡画像の画像解析と定量化
池崎満里子（日本ローパー）
11.閉会挨拶
乙部博英（旭化成）
12.ポスターセッション＆フリートーキング