平成20年度 日本顕微鏡学会写真コンクール受賞作品（日本顕微鏡学会第64回学術講演会）
2008 Photo contest winner at the 64th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy
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優秀賞
Title：京小紋
佐藤 高広、今野 充、渡部 明(株式会社日立ハイテクノロジーズ)
H-Nb2O5薄膜サンプルの高分解能透過電子像を擬似カラー表示し、和服の型にトリミングしました。白い点がNbの原子を示しています。このように、原子の世界は、規則的な幾何学模様を作り出します。これらの模様の配列は、京都の伝統的な着物である京小紋を連想させます。
(撮影対象)
試 料：H-Nb2O5
装 置：H-9500 透過電子顕微鏡
加速電圧：300 kV
直接倍率：400,000倍
Title：月に照らされ 映る京
安原 聡、鈴木 俊明(日本電子株式会社)
FIBを利用し、Nd-Fe-B永久磁石から五重塔を作製しました。上図の五重塔から漏れでる白黒のコントラストは、磁石の塔から発生する磁場を表します。また白黒のコントラストは、磁場の向きが互いに逆向きであることを示しています。STEMを用い磁性体を観察することで、試料の磁場情報を可視化することができます。
（撮影対象・条件）
撮影装置JEM-2100F(TEM/STEM)
試料 NdFeB永久磁石 試料作製装置 JEM-9320FIB