「第2回計測インフォマティクス研究会（人工知能学会第2種研究会：SIG-MEI）」
協賛 NIMS先端材料解析研究拠点、NIMS統合型材料開発・情報基盤部門
現実世界から必要な情報をデジタル化して収集する計測・センシング技術は、IoT社会が必要とするコア技術です。
このような背景の下で、従来技術に留まらず、新しい計測・センシング技術の研究開発が多数行われています。
本研究会は、情報、物理、化学、生物など様々な面から、対象の推定原理、計測原理、制御原理、データ構造・
アルゴリズム原理、そしてそれらを用いた先端計測・センシングのデバイス・装置、エッジコンピューティングの
デバイス・アークテクチャ、情報処理に関する理論・手法・技術について、基礎から応用までの幅広い研究課題を
対象とします。そして、産官学の研究者と技術者が互いの研究成果を発表し、討論する場を提供します。
今回は第２回研究会を以下の通り開催いたします。発表及び参加費は無料です。
人工知能学会員に限らずどなたでも申し込みいただけます。幅広い皆様の発表申し込み、参加申し込みをお待ちしております。
●日 時：2019年3月6日（水）13:00～
●会 場：国立研究開発法人物質・材料研究機構 千現地区 研究本館1階 第一会議室
●問合せ先：研究会幹事 物質・材料研究機構 篠塚寛志
SHINOTSUKA.Hiroshi@nims.go.jp