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このたびFIB技術先進システム研究部会では、下記のように第一回研究会を10月20日(金)に対面で開催することになりました。
研究会テーマ『FIB加工によるTEM試料作製技術の発展と課題』
主 催：日本顕微鏡学会 FIB技術先進システム研究会
日 時：2023年10月20日(金) 12:55～17:00
場 所：エッサム神田ホール(JR神田駅前) 2号館 301大会議室
会 費：顕微鏡学会会員は無料、非会員の方は2,000円(10％税込)です。
参加登録はこちら
上記登録用URL（Forms）にアクセスできない場合は、添付の参加申込フォームを下記までメールで送ってください。
送付先：NIMS 原 徹、HARA.Toru※nims.go,jp、※を@に変更下さい
参加申込フォームはこちら
研究会終了後に意見交換会（6,000円程度）を予定しております。
参加希望の方は、研究会登録用URLから意見交換会へ「参加する」を選んでください。
意見交換会については、今回は参加人数把握のための予備調査です。後日、意見交換会参加希望者に、改めて会場についてご連絡致します。
非会員の方の参加登録料および、意見交換会費用の支払い方法については、登録後に改めてメールで案内します。参加登録料（非会員の方2,000円）と意見交換会費用の領収書は支払い手続き完了後に発行します。
FIB技術先進システム研究会 第一回研究会プログラム
『FIB加工によるTEM試料作製技術の発展と課題』
12:55～13:00 開会挨拶 大阪大学 杉山 昌章
13:00～13:30 イオン照射によるカスケード損傷と試料ダメージ 北海道大学 坂口 紀史
13:30～14:00 バイオ系のクライオFIB加工によるTEM試料作製
サーモフィッシャーサイエンティフィック 小松 恵理
14:00～14:15 休憩
14:15～14:45 FIBによる半導体解析の進展と期待 日本電子 朝山 匡一郎
14:45～15:15 無機材料へのFIB加工技術 ファインセラミックスセンター 加藤 丈晴
15:15～15:30 休憩
15:30～16:00 ThermoFisher Scientific社製FIB装置の最近のトピック
サーモフィッシャーサイエンティフィック 完山 正林
16:10～16:50 パネルディスカッション
17:30～19:30 意見交換会（有志）