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このたびFIB技術先進システム研究部会では下記の通り第3回研究会を開催いたします。
テーマ：FIB加工による平滑な試料作製技術と諸課題について
主 催：日本顕微鏡学会 FIB技術先進システム研究部会
日 時：2024年11月29日 金曜日 12:55 ～ 17:00
場 所：エッサム神田ホール会議室2号館 4階大会議室 2-401
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参加費：顕微鏡学会会員：3,000円、個人非会員：6,000円
※10%消費税込 支払い方法については登録後に改めてメールで案内します。
参加申込締切：2024年11月20日(水) ※それ以前でも定員が120名に達した時点で締め切ります。
参加登録はこちら
【プログラム】
12:55～13:00 開会に際して
13:00～13:45 カーテニング効果とその対応策 (株)日立ハイテク 大西 毅
13:45～14:15 意外と知られていないFIB技術のトピックス セイコーエプソン(株) 乾 光隆
14:15～14:45 電子顕微鏡用断面試料作製の基礎から応用まで
カミソリからミクロトーム、イオンビームまでを使いこなす！
東京電機大学 鈴木 俊明
14:45～15:00 休憩（コーヒータイム）
15:00～16:00 パネルディスカッション 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター 杉山 昌章
★「FIB加工で困っていること」・・・会員からの質問をベースに
★ダメージ層の評価方法確立のためのラウンドロビンテスト開始について
16:00～16:30 『企業枠』日本電子FIB-SEMのご紹介 日本電子(株) 三平 智宏
16:30～16:55 FIBで困っていること ―シリアルセクショニングをする立場から―
物質・材料研究機構 原 徹
★会議室利用時間の都合により、17:15には全員退出します。
17:45～19:45 意見交換会（有志）
JR神田駅から東京駅付近 場所（人数にて調整予定）