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日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な疑問点をざっくばらんに話し合う場として「電子顕微鏡解析技術フォーラム」の開催を企画しています。
今回のフォーラムでは、日々新材料が開発されており、且つ電子顕微鏡解析が困難なソフトマテリアルを取り上げ、「身近なようで奥が深い、ソフトマテリアル分析について」と題し、チュートリアルでは染色技術について基礎から学びます。また、トピックではEELSを用いた分析・解析技術、汎用TEMでの観察技術について、各種アプローチの特徴や適用事例について先生方にご講演頂きます。
また、このフォーラムの特色である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問点を発表していただき、今後のご研究に役立つ議論をいたします。また、日頃のご研究成果や解析事例についてご発表いただける方も募集いたします。
主 催：公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
日 時：2025年1月24日（金）13:00 ～17:30（予定） （意見交換会～20:00予定）
会 場：ミーティングスペースＡＰ秋葉原 ROOM H
（東京都台東区秋葉原１－１秋葉原ビジネスセンター４F）
参加費：3,000円（日本顕微鏡学会会員（個人・法人）、学生）
4,000円（協賛会員）、5,000円（会員外）
意見交換会参加費：1,000円
※参加費は会員区分に依らず課税対象となります。
定 員： 50名
申込期間：2024年12月18日（水）～2025年1月15日(水) （定員になり次第締め切ります）
申込方法：12月18日に電子顕微鏡解析技術フォーラムHP上にてお申込みフォームのURLを
公開いたします。サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。
電子顕微鏡解析技術フォーラムHPはこちら
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