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日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な疑問をざっくばらんに話し合う場として「電子顕微鏡解析技術フォーラム」の開催を企画しています。
今回のフォーラムでは「その場観察」を取り上げ、『～「その場限り」という勿れ、その場計測－ミクロとマクロの接点－～』をテーマに、電子顕微鏡や放射光を用いた最新の研究事例を紹介しながら、「その場計測」がもたらす多様な知見とその可能性に迫ります。
また、このフォーラムの特色であるざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問を発表していただき、それをもとに今後のご研究に役立つ議論を行います。加えて、日頃のご研究成果や解析事例をご発表いただける方も募集いたします。
「その場観察」に携わっている皆様、これから取り組んでみたいとお考えの皆様、ぜひ奮ってご参加ください！
主 催：公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
日 時：2025年7月17日（木）～7月18日（金） 合宿形式
会 場：時之栖（静岡県御殿場市神山719）
（三島、御殿場、裾野駅よりシャトルバスあり）
参加費：25,000円（日本顕微鏡学会個人・法人・学生）
26,000円（協賛会員）、30,000円（学会会員外）
※１泊２日、夕食（焼肉）、朝食、昼食付きです
※参加費は会員区分に依らず課税対象（10％税込）となります
※3～4名の相部屋となります
定 員： 50名
申込期間：2025年6月16日（月）～7月2日（水）（定員になり次第締め切ります）
申込方法：6月16日に電子顕微鏡解析技術フォーラムHP上にてお申込みフォームのURLを
公開いたします。サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。