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電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な問題点をざっくばらんに話し合う場として《電子顕微鏡解析技術フォーラム》を開催いたします。
今年の夏のフォーラムでは、テーマを「材料物性の謎を解き明かそう！電子顕微鏡による結晶構造解析」と題し、チュートリアルではTEMを用いた転位解析やSEM-EBSDについて基礎から学びます。
また、トピックスでは、電池から金属材料まで、結晶構造解析により物性を解き明かそうとする研究について、各方面でご活躍されている先生方にご講演いただきます。
本フォーラムの目玉でもある“ざっくばらんトーク”では、結晶構造解析に関連した疑問や問題点を、参加者全員で議論いたします。これを機会に、素朴な疑問・質問、日頃抱えている解析の問題点を参加者に投げかけてみませんか？
また、日頃のご研究成果や解析事例についてご発表いただける方も募集いたします。
5年ぶりとなる合宿での夏のフォーラム。
宿泊部屋は個室をご用意しました。電顕に携わる皆様、奮ってご参加ください！
1. 主 催：公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
2. 日 時：2023年8月4日（金）13:00 ～8月5日（土）16:00（予定） （1泊2日）
3. 会 場：東レ総合研修センター（静岡県三島市末広町２４-２１）
4. 参加費（宿泊費含む）：25,000円（日本顕微鏡学会個人・法人・学生）
27,000円（協賛会員） 30,000円（非会員）
※会員は不課税、協賛学会員、非会員は10%税込となります。
5. 定 員： 40名
6. 申込期間：2023年6月12日（月）～7月17日(月)（定員になり次第締め切ります）
申し込み方法：6月12日に電子顕微鏡解析技術フォーラムHP上にてお申込みフォームのURLを公開いたします。
サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。
HP： 顕微鏡学会 電子顕微鏡解析技術分科会
注意事項）なお、7月24日以降はキャンセル費用が発生しますので、代理の方のご参加をご検討ください。
問合せ先（事務局）： 日鉄テクノロジー（株） 水尾有里
E-mail: mizuo.yuri.8dg[at]nstec.nipponsteel.com
※[at]を@に変更してお送りください
TEL： 0439-80-2866 FAX：0439-80-2733
7. プログラム：
『チュートリアル』
・金属における格子欠陥の挙動のTEMその場観察 荒河 一渡（島根大学）
・SEMを用いたEBSDの基礎と応用例 森田 博文（オックスフォード・インストゥルメンツ（株））
『トピックス』
・全固体リチウム電池の結晶配向性とイオン伝導 野村 優貴（（一般財）ファインセラミックスセンター）
・転位の見方・測り方・使い方 光原 昌寿（九州大学）
・電子顕微鏡を用いた結晶方位解析と機械的性質評価法の紹介 諸永 拓（（国研）物質・材料研究機構）
・SEM-ECCI法を用いた鉄鋼材料中の転位観察技術 森 孝茂（日本製鉄（株））
『ざっくばらんトーク』
今回は結晶解析にテーマを絞って皆様からの疑問や質問を募集します。基本原理や実際の測定テクニック、
電子線回折や前処理の疑問点から最新技術について、質問を投げかけてください。
『一般講演 募集』 今回のテーマと関係なく「解析事例の紹介」を募集します。
（発表時間：20分（質疑応答含む））
公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会
責任者 和田 充弘
実行委員長 吉田 誠