)
)
日本顕微鏡学会走査電子顕微鏡分科会では、来る8月29日（金）に、SCAN TECH 2025を開催いたします。今年度は「SEMを最大限に活用するコツ ～材料に適応した試料前処理法と像解釈～」をテーマに、東京都市大学 世田谷キャンパス（東京都世田谷区）にて対面形式で開催いたします。
【主催】 公益社団法人日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
【日時】 2025年8月29日（金） 10:00～18:00
【形式】 現地対面開催
【会場】 東京都市大学 世田谷キャンパス 7号館
（〒158-8557 東京都世田谷区玉堤1-28-1）
交通アクセス
・東急大井町線 尾山台下車：徒歩12分
・東急東横線/東急多摩川線 多摩川駅下車→東急バス（二子玉川駅行）
東急ゴルフパークたまがわ前・東京都市大南入り口下車：徒歩3分
・東急田園都市線 二子玉川駅下車→東急バス（多摩川駅行）
東急ゴルフパークたまがわ前・東京都市大南入り口下車：徒歩3分
・東急東横線 田園調布駅下車→東急バス（千歳船橋駅行）
東京都市大北入り口下車：徒歩5分
【参加費(予稿集含む)】
日本顕微鏡学会会員* 4,000円 (税込)
非学会員 8,000円 (税込)
学 生 無料
*日本顕微鏡学会の正会員に限ります。日本顕微鏡学会の法人会員および、
関連学会の会員は非会員となりますのでご注意ください。
予稿集はPDFファイルをダウンロードいただきます。
【登録方法】 分科会ホームページよりご登録ください。
登録締切：2025年8月1日（金）
当日の参加登録は受け付けておりませんのでご注意ください。
【問い合わせ先】
公益社団法人日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
Email：scantech2025[at]scantech.jp [at]を@に変えてお送りください。