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日本顕微鏡学会走査電子顕微鏡分科会では来る8月28日(金)にSCAN TECH 2026を開催いたします。
SCAN TECH 2026「“見える”を“わかる”に変える ～SEM前処理条件と解析技術～」
【主催】公益社団法人日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
【日時】2026年8月28日(金) 10:00～18:30
【形式】現地対面開催
【会場】東京都市大学 世田谷キャンパス(https://www.tcu.ac.jp/)7号館
(〒158-8557 東京都世田谷区玉堤1-28-1)
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