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日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会では「第41回分析電子顕微鏡討論会」を開催いたします。
今回の討論会では分析電子顕微鏡に関するチュートリアルおよび研究トピックスについて講演を行います。「チュートリアル」では、分析電子顕微鏡の基礎となるEDS、EELS、STEMについて、基礎から詳しく解説します。
初日のトピックセッションでは、「分析TEMの実践と応用」をテーマとして、より実践的な分析TEMの利用方法やその応用例について、装置メーカーの講師の方々にご紹介いただきます。
二日目には、「試料作製」に関するチュートリアル講演、ならびに「放射光によるイメージングと分析」に関する講演を予定しています。
分析電子顕微鏡に関する知識を深めるとともに、活発な情報交換・討論の機会となれば幸いです。皆様、奮ってご参加ください。
詳細はこちら
第41回分析電子顕微鏡討論会
主 催：日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会
日 程：2026年12月3日（木）～4日（金）
開催方法：オンライン
定 員：150名
参加費（予稿集含む）：
日本顕微鏡学会員および協賛学会員（個人会員） 3,000円
非会員 4,000円
学 生 1,000円
※参加費はすべて税込です。
申込締切：2026年11月24日（火）
申込はこちら(Googleフォーム)
【連絡先】
佐藤 庸平
日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会
E-mail：bunseki.touron.41[at]gmail.com ※[at]を@に変えてお送りください。