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平成17年度 日本顕微鏡学会写真コンクール受賞作品（日本顕微鏡学会第61回学術講演会）
2005 Photo contest winner at the 61th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy
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最優秀作品賞 -Best Micrograph Award 2005
Title：Panorama Diffraction Pattern
今野 充１、矢口 紀恵１、上野 武夫１、橋本 隆仁2、大西 毅2
(1日立サイエンスシステムズ 2日立ハイテクノロジーズ)
世界初、試料を180°回転しながら観察した電子線回折像です。［110］を中心とした合計13個の電子回折像が欠落なく連続的に観察されています。中央はその観察に用いた試料のSEM像です。
試料はFIBマイクロサンプリング法により直径0.2μmの円柱状に加工し、試料回転ホルダーを用いて観察しました。電子顕微鏡による三次元ナノ構造解析がまた一歩、進歩しました。
(撮影対象)
試 料：シリコン(Si)単結晶
観察装置：H-9500 透過電子顕微鏡
加速電圧：300kV
カメラ長：0.5m
優秀作品賞
Title：ミクロガーデン
振木 昌成１、塩野 正道１、伊藤 寛征１、檀 紫１、西村 雅子１、尾上 孝利２
(１日立サイエンスシステムズ ２太成学院大学 人間学部)
低真空SEMとクールステージを用いて、星状毛を有する葉表面を生の状態で観察した例です。この星状毛は、葉の表面の乾燥を防ぐといった蒸散作用の調節機能を担っています。
その造形美と共に、微細な構造が果たす役割の重要性を思うと、自然界の神秘さには驚かされます。星状毛のひとつひとつが咲き誇る花のようで、葉の表面がまるでお花畑のように見えませんか？
（撮影対象・条件）
試料：星状毛を有する植物の葉
使用機種：S-3500N形SEM +クールステージ
加速電圧：15kV
観察倍率：×50
試料室内圧力：40Pa
試料ステージ温度 ：－20℃