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走査電子顕微鏡分科会では、きたる8月30日（金）に、SCAN TECH 2024を開催いたします。
今年度は、「柔剛ともによく制す ～達人に聞く！試料前処理と観察技術の最前線～」がテーマとなっております。
皆様のご参加を、心よりお待ちしております。
主催：公益社団法人 日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
日時：2024年8月30日（金） 10:00～18:30
形式：現地来場
会場：東京都市大学 世田谷キャンパス 2号館(〒158-8557 東京都世田谷区玉堤1-28-1)
参加費(予稿集含む)：予稿集はPDF ファイルをダウンロード
日本顕微鏡学会会員 3,000 円（税込）、非学会員 6,000 円（税込）
学生 無料
分科会ホームページよりお申し込みください。