アーカイブ(旧サイト)

走査電子顕微鏡分科会 SCAN TECH 2024のご案内

走査電子顕微鏡分科会では、きたる8月30日(金)に、SCAN TECH 2024を開催いたします。
今年度は、「柔剛ともによく制す ~達人に聞く!試料前処理と観察技術の最前線~」がテーマとなっております。
皆様のご参加を、心よりお待ちしております。

主催:公益社団法人 日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
日時:2024年8月30日(金) 10:00~18:30
形式:現地来場
会場:東京都市大学 世田谷キャンパス 2号館(〒158-8557 東京都世田谷区玉堤1-28-1)
参加費(予稿集含む):予稿集はPDF ファイルをダウンロード
 日本顕微鏡学会会員 3,000 円(税込)、非学会員 6,000 円(税込)
 学生 無料
分科会ホームページよりお申し込みください。